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YGP-6249電子荷質(zhì)比實(shí)驗(yàn)裝置
電子荷質(zhì)比e/m是一個(gè)常用的物理常數(shù),它的定義是電子的電荷量與其質(zhì)量的比值,經(jīng)現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的測(cè)定電子荷質(zhì)比的標(biāo)準(zhǔn)值是:1.759×10^11C/kg。當(dāng)然測(cè)量電子荷質(zhì)比的方法在物理實(shí)驗(yàn)中有許多種,本實(shí)驗(yàn)儀是以當(dāng)年英國(guó)物理學(xué)家湯姆遜的思路,利用電子束在磁場(chǎng)中運(yùn)動(dòng)軌跡發(fā)生偏轉(zhuǎn)的方法來(lái)測(cè)量。電子荷質(zhì)比實(shí)驗(yàn)裝置的中心器件是三維立體的威爾尼氏管,通過(guò)它可以生動(dòng)形象地顯示出電子束的運(yùn)行軌跡,當(dāng)將威氏管放于亥姆
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更新日期
2025-04-16
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XTR-6314邁克爾遜干涉實(shí)驗(yàn)
1881年,為深入研究“以太”現(xiàn)象,美國(guó)物理學(xué)家阿爾伯特·邁克爾遜與愛(ài)德華·莫雷攜手合作,成功研制出基于分振幅法產(chǎn)生雙光束干涉的邁克爾遜干涉儀。該儀器在光譜精細(xì)結(jié)構(gòu)的研究以及利用光波進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)米尺的標(biāo)定等實(shí)驗(yàn)中發(fā)揮了至關(guān)重要的作用。本實(shí)驗(yàn)裝置實(shí)現(xiàn)了邁克爾遜干涉儀的設(shè)計(jì)理念和光路原理,涵蓋了相干性、分振幅干涉、等傾干涉、等厚干涉、定域干涉、非定域干涉、點(diǎn)光源、擴(kuò)展光源、白光干涉、干涉可見(jiàn)度、轉(zhuǎn)換法、累
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2025-04-16
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2025-04-15
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